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GTEM室（吉赫茲?rùn)M電磁波小室） 電磁輻射敏感度試驗(yàn)通常在電波暗室中完成，而采用GTEM（吉赫茲?rùn)M電磁波）進(jìn)行電磁兼容性測(cè)試是近年來(lái)國(guó)際電磁兼容領(lǐng)域發(fā)展的一項(xiàng)新的測(cè)量技術(shù)，尤其適用于體積較小的被測(cè)品，比如電力行業(yè)的電表等裝置。由于GTEM的寬頻帶特性（從直流到微波），造價(jià)低廉（只相當(dāng)于普通電波暗室造價(jià)的百分之幾），可用于電磁輻射敏感度試驗(yàn)（RS試驗(yàn)），而且所用儀器（相對(duì)在電波暗室中做試驗(yàn)來(lái)說(shuō)）具有配置簡(jiǎn)單、成本低廉和可用于快速和自動(dòng)測(cè)試的特點(diǎn)，所以越來(lái)越受到國(guó)內(nèi)外專業(yè)人士的重視，尤其近幾年在電力行業(yè)，針對(duì)小設(shè)備（如智能電表）的RS測(cè)試，需求量更是大。 查看詳情