造成裝配熱電偶不穩(wěn)定性的來源介紹

　　裝配熱電偶作為測量溫度的傳感器通常和顯示儀表、記錄儀表和電子調(diào)節(jié)器配套使用，它可以直接測量各種生產(chǎn)過程中從0℃到1800℃范圍的液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體的表面溫度。它是由兩種不同成份的導(dǎo)體兩端經(jīng)焊接，形成回路，直接測溫端叫測量端，接線端叫參比端。當(dāng)測量端和參比端存在溫差時，就會在回路中產(chǎn)生熱電流，接上顯示儀表，儀表上就會指示出所產(chǎn)生的熱電動勢的對應(yīng)溫度值。

　　裝配熱電偶的不穩(wěn)定性來源有哪些呢？

　　1、玷污會影響塞貝克系數(shù)。偶絲材料往往受到環(huán)境氣氛或保護(hù)管雜質(zhì)玷污，不同程度的玷污所產(chǎn)生的附加電勢也不同，這種附加電勢將改變原來的分度特性，這是造成示值不穩(wěn)定的一個因素。檢定該產(chǎn)品所用的絕緣瓷管都要求用水清洗，高溫烘烤并規(guī)定正、負(fù)極的穿孔極性。若在常用的管中把熱電極的正、負(fù)極穿錯，原穿鉑銠孔中的鉑，會向鉑極滲透而改變熱電特性。上述種種情況都會影響其穩(wěn)定性。

　　2、偶絲材料多數(shù)是合金材料，由于各組分材料的蒸氣壓不同，所以揮發(fā)的程度也不同，在高溫下使用一定時間后，合金成分比例就有所改變，這將導(dǎo)致熱電勢產(chǎn)生明顯變化。

　　3、脆化是導(dǎo)致該產(chǎn)品報廢的普遍因素。熱電極由于玷污、晶粒生長以及發(fā)生氧化還原反應(yīng)和長期在高溫下再結(jié)晶等因素，都是導(dǎo)致熱電極脆化的原因。熱電極用于原子反應(yīng)堆中，受到中子轟擊，其中某種元素蛻變成其他元素，改變了熱電極成分。

　　4、劇烈的彎曲或其他任何類型的加工硬化在偶絲中形成的內(nèi)應(yīng)力可能產(chǎn)生物理上的不均勻性，細(xì)心操作可以避免大部分由此引起的不均勻性。裝配好的產(chǎn)品經(jīng)過適當(dāng)?shù)耐嘶鹨部稍谀撤N程度上減少這種不均勻性。

　　希望上述內(nèi)容能夠幫助大家更好的了解本產(chǎn)品。